半导体芯片IV性能测试仪表

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半导体芯片IV性能测试仪表

半导体芯片IV性能测试仪表认准生产厂家武汉普赛斯仪表,详询一八一四零六六三四七六;普赛斯仪表S型数字源表国产自主研发,单通道,不支持脉冲输出,触摸屏操作,支持多种通讯方式,RS-232、GPIB及以太网;最大输出电压达300V,最小测试电流达100pA,支持USB存储,一键导出数据报告,S系列源表价格优势明显;

普赛斯源表功能:精确提供四象限电压或电流,并同步测量电流和电压;可以实现电源、万用表、电子负载、电源/测量组合功能;

用途:精确提供和测量电压和/或电流,广泛应用于各种电器特性参数测试中,如IV扫描;

普赛斯源表优势:四象限工作,源和负载;电压及电流范围广,最小电流分辨率10pA,电流100pA~1A,电压300mV~300V,准确度为0.1%;5寸触摸显示屏图形化操作,内置强大的功能软件,加速用户完成测试;支持多种通讯方式,RS-232、GPIB及以太网;

额外功能(软件实现的):二极管IV扫描及参数分析、三极管IV扫描及参数分析、LIV测试系统、太阳能电池放电测试系统、电池充放电循环系统等;

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