直流3A半导体分立器件测试仪

价格面议2024-04-26 13:30:02
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直流3A半导体分立器件测试仪

通常分立器件特性参数测试需要几台仪器完成,如数字万用表、 电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析,过程既复杂又耗时,又占用过多测试台的空间;实施半导体分立器件特性参数分析的最佳工具之一是数字源表(SMU)。数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表,还可用作精密电子负载,其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器、波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统,支持四象限工作。普赛斯“五合一”高精度数字源表(SMU)可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具。不论使用者对源表、电桥、曲线跟踪仪、半导体参数分析仪或示波器是否熟悉,都能简单而迅速地得到精确的结果。

利用数字源表简化半导体分立器件特性参数测试
丰富的半导体IV特性测试行业经验;
全面的解决方案:二极管、MOSFET、BJT、IGBT、二极管电阻器及晶闸管等;
提供适当的电缆辅件和测试夹具……


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