半导体器件电性能测试仪表高精度数字源表
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半导体器件电性能测试仪表高精度数字源表
半导体器件电性能测试仪表高精度数字源表找普赛斯仪表，普赛斯数字源表国产自主研发，对标美国2400，B2901；可实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率；支持四象限工作，测量范围广，电压高至300V，电流低至10pA；支持USB存储，一键导出数据报告；5寸触摸显示屏图形化操作，内置强大的功能软件，加速用户完成测试；支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网；详情请联系普赛斯仪表销售专员为您解答一八一四零六六三四七六
普赛斯源表功能：精确提供四象限电压或电流，并同步测量电流和电压；可以实现电源、万用表、电子负载、电源/测量组合功能；
用途：精确提供和测量电压和/或电流，广泛应用于各种电器特性参数测试中，如IV扫描；
普赛斯源表应用领域：分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等；能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等；传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等；有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等；纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等；
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